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    QFN20-0.4翻盖弹片老化座3*3mm qfn适配器烧写座 QFN20芯片测试座
    删除信息打印此文 发布时间:2022/11/30 10:01:21
    信息类型:供应


    QFN20-0.4翻盖弹片测试座



    产品简介



    产品用途:编程座、测试座,对QFN20的IC芯片进行烧写、测试



    适用封装:QFN20 引脚间距0.4mm



    测试座:QFN20-0.4



    特点:采用U型顶针,接触更稳定



    规格尺寸



    型号:QFN-20-0.4



    引脚间距(mm):0.4



    脚位:20



    芯片尺寸:3*3

    QFN20-0.4翻盖弹片老化座3*3mm qfn适配器烧写座 QFN20芯片测试座
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    Published at 2024/12/27 10:10:46, Powered By v1.0.0(MSSQL)